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日本東京國際測試，檢查和技術(shù)測量系統(tǒng)展覽會

展會時間:

2024年1月

展會地點:

亞洲

日本

東京

展會行業(yè):

精密儀器

展館圖:

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標(biāo)準(zhǔn)展位：查看價格

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3.0

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待核實

日本東京國際測試，檢查和技術(shù)測量系統(tǒng)展覽會

展會時間:

2024年1月

展覽行業(yè):

精密儀器

展會地點:

亞洲 -日本 -東京

歷史閱讀量

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展會介紹

英文名稱：International Exhibition of Test, Inspection and Measuring Systems for SMT, IC Packaging and Board M

展覽行業(yè)：精密儀器

舉辦周期：一年一屆

展會規(guī)模：小于10000

????該展會自1983年開始舉辦，在2008年的展會上，共有 1072家公司參展，共有54793名觀眾參觀了日本東京國際測試，檢查和技術(shù)測量系統(tǒng)展覽會（ELECTROTEST JAPAN）。

展品范圍

Test, measurement and image processing equipment for the electronics and semiconductor industry, such as bare board tester, circuit tester, optical measurement, test fixtures, X-ray inspection equipment. Test and inspection in electronics manufacturing and R&D

展館信息

展會地點:

亞洲

日本

東京

往屆回顧

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